Курсовая работа: Разработка магнитодиода
P = U·I = 2·0,25·10-3 = 5·10-4 Вт.
Площадь поперечного сечения магнитодиода
S = h·а = 235·10-5·1,94·10-4 =
456,2·10-5 см2.
Удельная рассеиваемая мощность
.
Подставим полученные значения в формулу (3.39)
(d/L) опт»1.2+0.5·ln
(109,6·25·103) = 8,612
Длина диффузионного смещения находится из выражения
, (3.47)
где b=mn / mp; mр - подвижность дырок, 400 см2/B·с;
mn - подвижность электронов, 8500 см2/B·с; jт - температурный потенциал, 0.025
В; tр - время жизни
носителей заряда, для данного материала > 600 мкс.
см.
Длина базы магнитодиода равна
d = L·8,612 =
3,38·10-4·8,612 = 0,29 см.
Длина магнитодиода с учетом ширины контактных площадок равна
l = 2,9+2·0.8 = 4,4 мм.
Основные геометрические размеры магнитодиода:
h (толщина) = 0,23 мм;
а (ширина) = 0, 194 мм;
d (длина базы) = 2,9 мм;
l (длина магнитодиода) = 4,4 мм.
Проведем расчет параметров ионного легирования арсенида
галлия для создания n+ - и p+-областей под инжектирующий
и антизапирающий контакты; n+ - область образуется введением атомов
фосфора, а p+ - введением атомов бора.
Основные исходные данные для расчета параметров ионного
легирования: ускоряющее напряжение E =100 кэВ; доза легирования Ф =1012
см-2 (при легировании бором); доза легирования Ф =1012 см-2
(при легировании фосфором). Необходимо рассчитать глубину залегания p-n
перехода. При легировании бором E=100 кэВ, Rp=307 нм, DRp=69 нм
, (3.48)
где Rp - средняя проекция пробега иона; DRp - среднее квадратичное отклонение
проекции пробега;
см-3.
Глубина p-n перехода определяется из соотношения
, (3.49)
где Nо - исходная концентрация примесей в
подложке.
Глубина залегания p-n перехода при ионном легировании бором
равна 0.6 мкм.
В процессе легирования фосфором при E=100 кэВ, Rp=135 нм, DRp=53 нм
Магнитная чувствительность полученного магнитодиода
, (3.50)
где U = 2В - напряжение на магнитодиоде при B = 0.
Вольт-амперная характеристика магнитодиода
(3.51)
(3.52)
Подставляя значения напряжения от 0 до 2 В, строим график
зависимости I = f (U) (рис.3.13).
Рис.3.13. Вольт-амперная характеристика магнитодиода
Построим график зависимости выходного напряжения
магнитодиода от перемещения U (X)
(рис.3.14).
где:, I -
управляющий ток, мА, Вmax - максимальное значение магнитной индукции
в зазоре дипольной системы, определяемое величиной магнитных проводимостей
системы, Тл; X - смещение измерителя магнитной индукции (ИМИ) относительно
положения с Вmax, м; k - коэффициент, зависящий от ширины ИМИ (k==0,13…0.17).
Рис. 3.14. Зависимость
выходного напряжения от смещение измерителя магнитной индукции относительно
положения с Вmax.
При разработке топологии кристалла полупроводникового датчика
на кристалле необходимо учитывать следующие конструктивно-технологические
ограничения [8]:
Таблица 4.1 - Конструктивно-технологические ограничения
Минимально-допустимые размеры |
мкм |
Размер контактных площадок для приварки проводников |
100×100 |
Расстояние между контактными площадками |
70 |
Ширина проводника |
6 |
Расстояние между проводниками |
4 |
Размеры окна вскрытия в окисле |
4×4 |
Размер окна в пассивирующем слое |
100×100 |
Кристалл размерами 4400800290мкм датчика представляет
собой арсенид галлиевую подложку (ρ=25000 Ом·см) с выполненными на ней магнитодиодом,
полученный методом ионной имплантации. Глубина ионной имплантации бора
составляет 0,6 мкм. Примесь фосфора внедряется на глубину 0,4 мкм. Для внешней
разводки предусмотрены контактные площадки размером 350´350 мкм.
Фигуры совмещения располагают одной-двумя группами на любом свободном
месте кристалла. Они могут иметь любую форму (чаще всего квадрат или крест). Причем,
на каждом фотошаблоне, кроме первого и последнего, имеются две фигуры
совмещения, расположенные рядом друг с другом. Меньшая фигура предназначена для
совмещения с предыдущей операцией, а большая - с последующей. На первом
фотошаблоне расположена только большая фигура, на последнем только меньшая. [8]
Исходя из вышеприведённых положений, разрабатывается топология
кристалла, т.е. наиболее оптимальное размещение на кристалле элемента и
контактных площадок. Чертёж кристалла приведён в приложении А.
Схема электрическая принципиальная датчика содержит две
части (рис 5.1): согласующую; усилитель.
Магнитное поле изменяет сопротивление магнитодиода и,
следовательно, входной ток транзистора, что приводит к изменению падения
напряжения на резисторе R3, с
которого снимается выходное напряжение. Оптимальное значение индукции
постоянного магнитного поля смещения Bсм зависит от R1. Выбором
значения R2 можно в широких пределах изменять значения Bсм при
заданном Bупр.
Из множества операционных усилителей выбран измерительный
операционный усилитель ОР-07, поскольку он отличается малым входным
напряжением, малым напряжением шумов, достаточно большим коэффициентом
усиления, широким диапазоном рабочих напряжений.
Усилитель ОР-07 в с своей структуре содержит входной
усилительный каскад и конечный, между ними на элементах С1, С2, R8, R10, собирается схема фильтра.
Рис 5.1. Схемы электрической принципиальной датчика.
Основные параметры и требования технологического процесса к
подложкам арсенида галлия [7]
Страницы: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11 |