рефераты рефераты
Главная страница > Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии  
Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии
Главная страница
Новости библиотеки
Форма поиска
Авторизация




 
Статистика
рефераты
Последние новости

Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии



Схемное изображение микроконтроллера КМ1816ВЕ51

Рис.2.1.

Схемное изображение интегральной микросхемы К155ЛА1

Условное графическое обозначение

1,2,4,5,9,10,12,13 - входы X1-X8; 6 - выход Y1; 7 - общий; 8 - выход Y2; 14 - напряжение питания;

Рис.2.2

Работа тестера проходит следующим образом:

В начальный момент времени питание тестера отключено, соответственно на выходе контроллера какие-либо сигналы отсутствуют. В момент включения питания тестера, подается питание на контроллер, который переходит в состояние ожидания команды на тестирование. Выполнение данной команды осуществляется нажатием кнопки "тест" - SB2. Питание тестируемой микросхемы в это время отключено. Далее осуществляется выбор тестируемой ИМС. Номер тестируемой микросхемы задается переключателями S1-S8 в двоичном коде. После того как требуемый тип микросхемы выбран, а тестируемая микросхема установлена на контактной площадке ХS1.1 - XS1.2, можно нажимать кнопку "тест". При нажатии кнопки тест, микропроцессором считывается номер микросхемы, и подается питание на тестируемую микросхему. Далее контроллер выполняет подпрограммы тестирования микросхемы. В порт микроконтроллера, подключенный к входам тестируемой микросхемы записываются комбинации сигналов, с заранее известными верными состояниями выходных сигналов, и считываются значения выходных сигналов, которые потом сравниваются с эталонными. Микросхема исправна при совпадении сигналов, считанных с выходов тестируемой микросхемы и эталонных сигналов. Тестером выдается сигнал - "Исправен". При не совпадении сигналов на выходе и ожидаемых (эталонных) сигналов выдается сигнал "Не исправен", следовательно, ИМС бракуется. После вывода результата питание с тестируемой микросхемы снимается до поступления следующей команды на тестирование.

Стоит отметить, что для работы на данном тестере, оператор должен уметь задать номер требуемой ИМС в двоичной системе счисления и считать его с индикаторов VD5, VD6 в шестнадцатеричной.

3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера

По описанному режиму работы тестера составляется блок-схема алгоритма работы контроллера, которая изображена на рис 3.1 Контроллер начинает работать с подачи на него питания. После подачи питания он проводит самотестирование и переходит в состояние ввода номера тестируемой микросхемы, после чего переходит в режим ожидания нажатия кнопки "тест", SB2.


Рис.3.1. Обобщенная блок схема алгоритма работы тестера

Как только срабатывает кнопка "тест", микроконтроллер, по заданной комбинации ключей S1-S8 производит дешифрацию номера микросхемы. В соответствии с номером ИМС определяется адрес подпрограммы и ей передается управление для тестирования заданного типа микросхемы. Выполняется тестирование микросхемы. Потом происходит вывод результатов тестирования ИМС. Далее контроллер ждет действий оператора. При нажатии клавиши SB2 ("тест"), производится повторное тестирование установленной микросхемы. При нажатии клавиши SB1 ("Сброс"), контроллер произведет самотестирование и будет ожидать ввода нового типа микросхемы.

При необходимости завершить работу с тестером, питание тестера отключается.

4. Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса

Аппаратная часть интерфейса тестера для взаимодействия микроконтроллера и тестируемой микросхемы будет выглядеть следующим образом. Микроконтроллер имеет четыре двунаправленных 8-ми разрядных порта ввода/вывода. Порт Р3 также является линиями управления внешними устройствами (Р3.0, Р3.3), а также его линии задействованы для индикации результата тестирования (Р3.4 - Р3.6). В порт Р0 (Р0.0 - Р0.7) подаются тестовые комбинации сигналов на тестируемую ИМС. В порт Р2 (Р2.0 - Р2.1) заводятся результаты опроса выходов ИМС. Комбинации тестовых сигналов представлены в табл.4.1

Таблица 4.1 Тестовые сигналы для ИМС К155ЛА1

№ теста Тестовые сигналы
Обозначение битов порта Р1 Байт P0
Р0.7 Р0.6 Р0.5 Р0.4 Р0.3 Р0.2 Р0.1 Р0.0
Функциональные обозначение выводов тестируемой ИМС
X8 X7 X6 X5 X4 X3 X2 X1
1 0 0 0 0 0 0 0 0 00Н
2 1 0 0 0 1 0 0 0 88Н
3 0 1 0 0 0 1 0 0 44Н
4 1 1 0 0 1 1 0 0 ССH
5 0 0 1 0 0 0 1 0 22Н
6 1 0 1 0 1 0 1 0 55Н
7 0 1 1 0 0 1 1 0 66Н
8 1 1 1 0 1 1 1 0 ЕЕH
9 0 0 0 1 0 0 0 1 11Н
10 1 0 0 1 1 0 0 1 99Н
11 0 1 0 1 0 1 0 1 55Н
12 1 1 0 1 1 1 0 1 DDH
13 0 0 1 1 0 0 1 1 33Н
14 1 0 1 1 1 0 1 1 ВВН
15 1 1 1 0 1 1 1 1 ЕЕН
16 1 1 1 1 1 1 1 1 FFH

Порт Р2, биты Р2.0 - Р2.3, подключается к выходным выводам тестируемой МС. Возможные комбинации правильных ответных сигналов сведем в табл.4.2

Страницы: 1, 2, 3, 4

рефераты
Новости