Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии
Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии
Тольяттинский Государственный Университет
Электротехнический факультет
Кафедра “Промышленная электроника"
КУРСОВАЯ РАБОТА
"ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ
МИКРОСХЕМ 155 СЕРИИ"
Студент: Моторин С.К.
Группа: Э-506
Преподаватель: Бредихин Б.В.
Тольятти 2004
Содержание
Введение
1. Техническое задание
2. Инженерная интерпретация задачи
3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы
контроллера
4. Разработка интерфейса программно-аппаратного
комплекса
5. написание подпрограммы тестирования интегральной
микросхемы К155ЛА1
6. Выбор расчет элементов схемы
Заключение
Список литературы.
В настоящее время, производство
радиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при их
производстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Так
как качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, в
которой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным.
Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатам
которых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящие
проверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверке
работоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальные
тестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данного
курсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса для
тестирования интегральных микросхем 155 серии.
Разработать
программно-аппаратный комплекс (микропроцессорный контроллер) для тестирования
интегральных микросхем. Тестер должен выполнять функциональный контроль
интегральных схем по принципу "годен" - "не годен". Тестированию
подвергаются интегральные микросхемы, имеющие корпус DIP14 с 14 выводами и
стандартное подключение питания: 14 вывод - "+5В", 7 вывод - "общий".
Общее число типов проверяемых интегральных схем не более 256.
Составить подпрограмму
тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1.
Для разработки
программно-аппаратного комплекса тестера использовали микроконтроллер
КМ1816ВЕ51. Основные параметры микроконтроллера приведены в табл.2.1, условное
графическое изображение - на рис.2.1
Таблица 2.1
Основные параметры
микроконтроллера КМ1816ВЕ51
| Название параметра |
Значение параметра |
| Объем резидентной памяти программ, Кбайт |
4 |
| Объем резидентной памяти данных, байт |
128 |
| Частота тактовых импульсов, МГц |
12 |
| Число портов ввода/вывода, шт |
4 |
| Напряжение питания, В |
+5 |
Интегральная микросхема, для
которой необходимо написать программу тестирования - К155ЛА1. Микросхема
представляет собой два логических элемента 4И-НЕ. Таблица истинности элемента 4И-НЕ
представлена в табл.2.2, условное графическое изображение показано на рис.2.2
Таблица 2.2
Таблица истинности элемента 4И-НЕ.
| Входы |
Выходы |
| X1X5 |
X2X6 |
X3X7 |
X4X8 |
Y1Y2 |
| 0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| 0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
| 0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
| 0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
| 0 |
1 |
0 |
0 |
1 |
| 0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
| 0 |
1 |
1 |
0 |
1 |
| 0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
| 0 |
0 |
0 |
0 |
1 |
| 0 |
0 |
0 |
1 |
1 |
| 0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
| 0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
| 0 |
1 |
0 |
0 |
1 |
| 0 |
1 |
0 |
1 |
1 |
| 0 |
1 |
1 |
0 |
1 |
| 0 |
1 |
1 |
1 |
0 |
Питание микроконтроллера
осуществляется через вывод 40, а микросхемы К155ЛА1 через вывод 14. Общий вывод
микроконтроллера вывод 20, а микросхемы К155ЛА1 вывод 7.
Страницы: 1, 2, 3, 4 |
