Горелик С. С., Дашевский М. Я. Материаловедение полупроводников и металловедение. -М.: Металлургия, 1973. -С. 496.
Левицкий Ю. Т. Макроскопические дефекты кристаллической структуры и свойства материалов. -М.: Наука, 1988. -С. 200.
Для подготовки данной работы были использованы материалы с сайта http://kristall.lan.krasu.ru/
Страницы: 1, 2
