Реферат: Оптические свойства полупроводниковых пленок в видимой и ИК частях спектра
(1.19)
Показатель поглощения равен теперь
(1.20)
Смысл условия (1.18) можно выяснить,
вспоминая, что длина электромагнитной волны в среде есть . С помощью этого
соотношения и равенств (1.17), (1.20) легко привести условие (1.18) к виду
(1.18')
Иначе говоря, расстояние, на котором
волна заметно поглощается, должно быть велико по сравнению с ее длиной.
Условие ε2' > 0 и
неравенство (1.18') выполняется во многих интересных случаях. При этом вклад
свободных носителей заряда в диэлектрическую проницаемость образца обычно
невелик, т. е. ε1' ≈ ε1. Небольшим
оказывается обычно и решеточное поглощение в рассматриваемой области частот:
ε2 << 1. При этом
формулу (1.20) можно переписать в виде (при μ ≈ 1)
(1.20')
На опыте часто измеряют еще коэффициент
отражения R. Последний определяется равенством [1]
(1.21)
Здесь Ei
— амплитуды волны, падающей на образец, Er
—амплитуда отраженной волны. Пользуясь граничными условиями для компонент
вектора E на поверхности образца, можно выразить R через коэффициенты преломления и экстинкции п и χ. В
случае нормального падения мы имеем
(1.22)
2. Механизмы поглощения
Процессы поглощения света следует
классифицировать по тому, на что непосредственно расходуется энергия
поглощенных фотонов. Можно выделить следующие механизмы [1]:
1) Решеточное поглощение:
электромагнитная волна непосредственно возбуждает колебания решетки. Этот
механизм поглощения особенно важен в ионных кристаллах, в которых генерация
оптических фононов приводит к заметному изменению вектора поляризации; однако
такое поглощение наблюдается и в гомеополярных материалах. Его испытывают
волны, частоты которых близки к предельной частоте оптических фононов ω0.
(Обычно это соответствует энергии в несколько сотых долей электронвольта.)
2) Поглощение свободными носителями
заряда: энергия расходуется на создание тока высокой (оптической) частоты и, в
конечном счете, переходит в джоулево тепло.
3) Примесное поглощение: энергия
поглощается носителями заряда, локализованными на примесных или иных структурных
дефектах решетки. Она расходуется либо на перевод носителей с основного уровня
примесного центра на возбужденный, либо на ионизацию примеси. В последнем
случае электроны (дырки) попадают в зону проводимости (валентную), т. е. имеет
место внутренний примесный фотоэффект. Таким путем можно определять энергии
ионизации ряда примесей.
4) Междузонное поглощение: энергия
фотона расходуется на создание пары «электрон проводимости + дырка». В
отсутствие сильного электрического поля и/или большой концентрации примеси этот
тип поглощения опознается по наличию граничной частоты ωm, близкой к Еg/ћ.
При ω < ωm поглощение этого
типа отсутствует. Следует, однако, заметить, что вид спектра поглощения вблизи
частоты ω = ωm в разных материалах
оказывается различным. На рисунке 2.1 представлен спектр поглощения арсенида
галлия.

Рисунок 2.1. Спектр поглощения пленки
арсенида галлия [1].
Видны два края поглощения. Первый из них
приближенно соответствует значению ћωm
= Eg (вблизи красной границы коэффициент
поглощения очень мал, поэтому поглощение становится заметным при несколько
больших частотах), второй отвечает энергии Eg
+ Δ, где Δ — расстояние между потолком валентной зоны и верхним краем
валентной подзоны, отщепленной из-за спин-орбитального взаимодействия.
Примерно такие же (в измененном масштабе
частот) кривые получаются и при исследовании многих других материалов —
антимонида и арсенида индия, антимонида галлия и др. С другой стороны, у ряда
интересных полупроводников частотная зависимость и величина показателя
поглощения вблизи красной границы оказываются существенно иными. Так, на
рисунке 2.2 изображен ход показатель поглощения света в германии при различных
температурах. При ω = ωm (ћωm = Eg = 0,66 эВ при
комнатной температуре) показатель поглощения относительно мал; он становится
сравнимым с тем, что наблюдается в арсениде галлия, лишь при ћω ~ Eg + 0,1 эВ. Похожая картина (в другом масштабе
частот) наблюдается также в кремнии, фосфиде галлия и других материалах. Это
различие имеет глубокую физическую природу: оно обусловлено тем, что в
материалах первого типа экстремумы зон проводимости и валентной лежат в одной
точке зоны Бриллюэна, а в материалах второго типа — в разных.
5) Экситонное поглощение: энергия фотона
расходуется на образование экситона.
В материалах первого типа экситонному
поглощению отвечают узкие пики α при частотах, несколько меньших ωm; в материалах второго типа вместо пиков наблюдаются
«ступеньки».

Рисунок 2.2. Край поглощения германия
при различных температурах [1].
3. Поглощение
свободными носителями
Говоря «свободный носитель», мы имеем в
виду носитель, который может свободно двигаться внутри зоны и реагировать на
внешние воздействия [2]. Поглощение свободными носителями характеризуется
монотонным, часто бесструктурным спектром, описываемым законом lp, где l = c/n— длина волны фотона, а р меняется в
пределах от 1,5 до 3,5.
При поглощении фотона электрон совершает
переход в состояние с большей энергией в пределах той же долины (рисунок 3.1).
Такой переход требует дополнительного взаимодействия для того, чтобы выполнялся
закон сохранения квазиимпульса.

Рисунок 3.1. Переход свободного электрона
в зоне проводимости [2].
Изменение квазиимпульса можно обеспечить
либо в результате взаимодействия с решеткой (фононы), либо путем рассеяния на
ионизованных примесях.
Согласно теории Друде, описывающей
колебания электрона в металле под действием периодического электрического поля,
затухание должно увеличиваться пропорционально l2.
В полупроводниках рассеяние акустическими фононами приводит к поглощению,
меняющемуся как l1.5.
Рассеяние на оптических фононах дает зависимость l2.5,
тогда как рассеяние ионизованными примесями может дать зависимость l3 или l3.5, что связано с аппроксимациями, использованными
при построении теории [2].
В общем случае реализуются все типы
рассеяния и результирующий показатель поглощения af свободными носителями представляет собой сумму трех
членов
af = Al1.5 + Bl2.5 + Сl3.5, (3.1)
где А, В и С — константы. В зависимости
от концентрации примесей тот или иной механизм рассеяния будет доминирующим.
Показатель р в зависимости lp должен возрастать с увеличением легирования или
степени компенсации.
В таблице 3.1 приведены значения р и
сечения поглощения af /N
для различных соединений [2].
Таблица 3.1. Поглощение свободными носителями в
соединениях n-типа.
Соединение |
Концентрация носителей, 1017
см-з
|
af /N *,
10-17 см-2
|
р |
GaAs |
1-5 |
3 |
3 |
InAs |
0,3-8 |
4,7 |
3 |
GaSb |
0,5 |
6 |
3,5 |
InSb |
1-3 |
2,3 |
2 |
InP |
0,4-4 |
4 |
2,5 |
GaP |
10 |
(32) |
(1,8) |
AlSb |
0,4—4 |
15 |
2 |
Ge |
0,5—5 |
~ 4 |
~ 2 |
* Отношение показателя поглощения к
концентрации свободных носителей af /N приведено для длины волны
9 мкм. Параметр р определяет зависимость поглощения от длины волны в приближении
af ~
lр.
Страницы: 1, 2, 3, 4 |