Курсовая работа: Проектирование блока буферной памяти
Получили, что
потребляемая мощность устройства равна 9,7Вт. Необходимое напряжение питания 5
В. Для работы устройства предусмотрим двойной запас по выходной мощности блока
питания. Соответственно требуется блок питания мощностью 20Вт, и выходной силой
тока 1А
Для борьбы с помехами в
цепь питания включим конденсаторы. З конденсатора номинальной емкостью 0.1 мкФ
и три конденсатора емкостью 10 мкФ.
7 Расчет
надежности
Любое устройство
создается для надежной безотказной работы. Свойство устройства сохранять во
времени в установленных пределах значения всех параметров, характеризующих
его способность выполнять требуемые функции в заданных режимах и условиях
применения, технического обслуживания и ремонтов, хранения и транспортирования,
называется надежностью. Если все параметры соответствуют требованиям
документации, такое состояние называют работоспособным, а событие,
состоящее в нарушении работоспособности, -отказам. Таким образом, для
возникновения отказа достаточно ухода хотя бы одного параметра за пределы,
установленные нормативно-техническими документами
В зависимости от того, каким
образом проявляются эти ухода параметров, различают внезапные и постепенные
отказы. Внезапный отказ характеризуется скачкообразным изменением
эксплуатационных параметров устройства, в связи с чем прогнозировать момент его
возникновения практически невозможно. Примеры внезапных отказов - короткое
замыкание обкладок конденсатора, обрыв выводов или пробой перехода транзистора.
Постепенный отказ характеризуется постепенными, плавными изменениями во
времени одного или нескольких параметров, обусловленными влиянием необратимых
процессов старения и износа. При этом, наблюдая за соответствующими параметрами
в течение длительного времени, всегда можно выявить тенденции или
закономерности их изменения и предсказать причину и время возникновения отказа.
В качестве примера постепенных отказов можно привести увеличение обратного тока
коллекторного перехода транзистора Iко, уменьшение коэффициента
передачи или полосы пропускания линейной интегральной схемы.
Для цифровых устройств,
работающих в условиях действия помех (наводки по цепям питания, внутренние шумы
и т. д), характерно наличие относительно большого числа самоустраняющихся
отказов (сбоев). Данный вид отказов связан с нарушением работоспособности
устройства на короткое время, после чего правильная работа аппаратуры
восстанавливается самопроизвольно, без вмешательства извне. Следствием сбоев
могут быть искажения информации (исходных данных, управляющих воздействий и т
д.), что может повлиять на нормальное функционирование устройства малая
длительность сбоя осложняет задачу его выявления и ликвидации связанных с ним
нежелательных последствий.
Надежность любого
объекта, в том числе и электронного устройства, зависит от многих факторов,
таких как качество использованных в нем деталей, их взаимное расположение,
условия охлаждения, качество сборки (монтажа), условия эксплуатации
(температура, влажность, наличие вибрации), качество обслуживания и пр. В
зависимости от назначения и режима эксплуатации изделия можно разделять на две
группы:
1) невосстанавливаемые,
при отказе их заменяют исправными (к ним относят элементы электронной и
электротехнической аппаратуры: резисторы, конденсаторы, диоды, интегральные
микросхемы и пр.),
2) восстанавливаемые, их
можно ремонтировать, заменяя в них отказавшие элементы и восстанавливая
нарушенные связи.
Рассматривая отказ как
событие случайное, для количественной оценки надежности используют вероятность
безотказной работы и вероятность отказа вероятность того. что в заданном
интервале времени t отказ устройства не произойдет, т. е. его эксплуатационные
параметры будут находиться в установленных пределах, называется вероятностью
безотказной работы P(t). Данная характеристика представляет собой монотонно
убывающую функцию времени t, причем Р(0) = 1. Р (∞) = 0.
(Предполагается, что вначале изделие исправно, а после некоторого времени,
может быть очень большого, оно обязательно выйдет из строя.) Представление о
том, каков характер функции P(t), можно получить в результате эксперимента с
большой группой изделий. Результаты эксперимента с группой отражают поведение
всей массы изделий (генеральной совокупности), если выборка достаточно объемна.
В этом случае говорят о представительной выборке. Пусть выборка содержит No =
1000 изделии (резисторов, конденсаторов, микросхем). Поставим их в режим, соответствующий
паспортным условиям эксплуатации (окружающая температура, ток, напряжение), и
будем фиксировать момент отказа каждого изделия или количество отказавших
изделий нарастающим итогом через каждые Δt ч. Тогда вероятность
безотказной работы:
P(t)=N(t)/N,, (1)
где N(t) - число изделий,
оставшихся исправными к моменту времени t. Располагая полученной информацией,
можно определить, какова в среднем вероятность того, что аналогичное изделие
будет работоспособным через 10, 100,1000 ч, сколько часов может
эксплуатироваться изделие, если задано допустимое нижнее значение P(t).
Вероятность отказа определяется как вероятность
появления отказа в течение времени t: Q(t) = (No - N(t))/No. Так как
работоспособное состояние и состояние отказа образуют полную группу событий, то
характеристики P(t) и Q(t) удовлетворяют соотношению P(t) +Q(t) = 1.
Введем понятие плотности
вероятности появления отказа:
(2)
важной характеристикой
надежности является и интенсивность отказов:
(3)
представляющая собой
вероятность отказа изделия в единицу времени после данного момента t при условии,
что до него отказ не возникал. Сравнивая выражения для a(t) и λ(t),
нетрудно увидеть различия между ними. Значение а(t)Δt характеризует
относительную долю отказавших изделий за интервал [t, t + Δt], взятых из
произвольной группы поставленных на испытания изделий, независимо от того,
исправны они или отказали к моменту времени t. Значение λ (t)Δt
определяет относительную долю отказавших изделий в интервале [t, t + Δt],
взятых из группы изделий, оставшихся работоспособными к рассматриваемому
моменту t . Для элементов электронной аппаратуры типичные значения λ от 10-6
до 10-81/ч.
Важный количественный
показатель надежности - среднее время безотказной работы (средняя наработка
до отказа), которое определяется как математическое ожидание времени работы до
отказа. Эту характеристику находят как
(4)
где ti, -
время безотказной работы i-го изделия (для восстанавливаемых изделий - время
работы между двумя соседними отказами). Для экспоненциального закона надежности
Средняя
наработка до отказа Т и интенсивность отказов λ удобны в качестве
справочных данных, так как они не зависят от времени.
В ряде случаев для
оценки безотказности устройства используется такая характеристика, как гамма
процентная наработка до отказа Тλ , т. е. наработка, в
течение которой отказ устройства т возникает с вероятностью γ, выраженной
в процентах. Соответствующее значение находят из уравнения
(5)
Например. Т90%
означает, что указанное время наработки до отказа реализуется с вероятностью P(T90%,)
= 0,9. т. е. указанное время будет достигнуто для 90% изделий.
Справочные данные обычно
приводятся для одиночных элементов в нормальных условиях эксплуатации. Реальные
условия эксплуатации могут отличаться от нормальных, а устройства, надежность
которых надо определить, содержат большое число различных элементов.
Влияние условий
эксплуатации (электрических режимов, температуры, радиации, влажности вибрации
и ударов) проявляется в изменении интенсивности отказов, определяемом опытным
путем. Утяжеление условии существенно повышает интенсивность отказов. Например,
увеличение рабочего напряжения на конденсаторе на 10% может повысить λ1
более чем вдвое.
Способы соединения
элементов и узлов, связей между ними разнообразны. Обычно выделяют основное и
резервное соединения. Соединение, когда отказ любого из элементов приводит к
отказу всего устройства, называют основным (например, бытовая
аппаратура). Модель расчета надежности для такого соединения - последовательная
цепочка элементов, когда работоспособному состоянию устройства соответствует
исправность P первого, P второго,..., P n-го элементов. Вероятность исправного
состояния системы, содержащей n элементов:

В этом причина низкой
надежности сложных систем с большим числом элементов: если Р = 0,999, а n =
1000, то Рс = 0,37. Другие показатели надежности для основного соединения
элементов выводят из формулы произведения вероятностей:

Найдем показатели
надежности нашей разработанной схемы. Из справочника знаем λi
равно конденсаторов 0,25*10-6 и интегральной микросхемы 0,06*10-6
. Найдем λс для всех элементов схемы. Расчеты представлены в
табл. 3.
Таблица 3
№ |
Элемент |
Кол-во, N |
λmin
|
λave
|
λmax
|
N * λmin
|
N * λave
|
N * λmax
|
1 |
Интегральные микросхемы |
47 |
0,046*10-6
|
0,06*10-6
|
0,072*10-6
|
2,162*10-6
|
2,82*10-6
|
3,384*10-6
|
2 |
Конденсаторы |
6 |
0,2*10-6
|
0,25*10-6
|
0,3*10-6
|
1,2*10-6
|
1,5*10-6
|
1,8*10-6
|
|
Итого: |
3,362*10-6
|
4,32*10-6
|
5,184*10-6
|
Страницы: 1, 2, 3, 4 |